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解析紅外線氣體分析儀原理作原理
瀏覽次數(shù):1302發(fā)布日期:2021-12-14

紅外線氣體分析儀原理作原理

 

紅外線氣體分析儀,是利用紅外線行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升不同,動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣,就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

1.比爾定律

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為個(gè)無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為: (比爾定律)

式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;

--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;

k--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);

C--待分析組分的氣體濃度;

L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)

對(duì)于臺(tái)制好了的紅外線氣體分析儀,其測(cè)量組分已定,即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k定;紅外光源已定,即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度定;氣室長(zhǎng)度L定。從比爾定律可以看出:通過測(cè)量輻射能量的衰減I,就可確定待分析組分的濃度C

作原理

該儀器屬于不分光式紅外線氣體分析器,其作原理是基于某些氣體對(duì)紅外線的選擇性吸收。儀器采用單光源、單管隔半氣室及的檢測(cè)器,、分析度、穩(wěn)定性好。采用的數(shù)字處理術(shù)